Contrôle de Surface par Ellipsométrie - NANOFILM
Basés sur le principe de l'ellipsométrie, Nanofilm a développé plusieurs appareils permettant le contrôle optique et l'analyse des surfaces .
L' ellipsométrie est une technique optique d' analyse de surface fondée sur la mesure du changement de l'état de polarisation de la lumière après réflexion sur une surface plane.
Types de surfaces concernées:
- nanoparticules
- matériaux biocompatibles
- polymères
- biopolymères (1)
- coating anti corrosion(2)
- verre borosilicate
- semi-conducteurs
- métaux
- films anisotropes
- films magnétiques
- microcontact printing (3)
EP3 SW
Ellipsomètre complet une seule longueur d'onde
Répétabilité et erreur relative : 0.001 nm
Précision : <0.1 nm
caméra CCD 768 x 572 pixels
laser solid state 532 nm 18mW
objectif x10
goniomètre motorisé (gamme d'angle: 40-95 degrés - résolution d'angle: 0.001 degré - vitesse de mouvement: environ 10 degrés/seconde)
Logiciel EP3 View
EP3 MW
Ellipsomètre complet triple longueurs d'onde
Répétabilité et erreur relative : 0.001 nm
Précision : <0.1 nm
caméra CCD 768 x 572 pixels
boite de longueurs d'ondes séparées
laser solid state 532 nm 18mW
laser diode 635nm
laser diode 830 nm
objectif x10
goniomètre motorisé (gamme d'angle: 40-95 degrés - résolution d'angle: 0.001 degré - vitesse de mouvement: environ 10 degrés/seconde)
Logiciel EP3 View
